阐述以LK8810作为测试平台，以74HC595为例，采用施加电流激励以测量电压的方法，为提高测量精度，输出采用开尔文连接的方式，根据所搭建的测量电路，利用测试专用函数编写程序实现对芯片输出高低电平上下限电参数的测试，测试结果可在上位机上显示。实验表明，该测试方案准确可靠，易于实施，可为数字芯片性能判断和缺陷分析提供可靠的数据依据。
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