冷阱-光电子电离飞行时间质谱检测痕量SF6气体分解产物

作者：刘陈瑶; 韩方源; 唐彬^*; 罗宗昌; 梁沁沁; 朱立平; 张洁明

来源：质谱学报, 2019, 40(06): 510-517.

• 冷阱
• 光电子电离飞行时间质谱(PEI-TOF MS)
• SF6气体分解产物
• 内部故障
• 早期诊断

通过检测六氟化硫(SF6)气体分解产物可有效发现SF6电气设备内部故障。在内部故障的早期阶段,由于吸附剂的吸附作用,设备内部SF6气体分解产物含量通常很低。受现场检测技术的限制,难以检测到这些痕量的气体分解产物,影响内部故障的早期诊断。本文研制了基于冷阱(CT)技术与光电子电离飞行时间质谱(PEI-TOF MS)技术联用的便携式检测系统,对典型SF6气体分解产物SO2、SO2F2的富集倍率分别为136倍和49倍,检出限分别达到0.01μL/L和0.1μL/L,为设备内部故障的早期诊断提供了一种有效的技术手段。

• 单位
  广西电网有限责任公司电力科学研究院