Ce掺杂Bi2S3/Fe2O3异质结的制备及其光电性能

作者:周威; 谭海军; 黎燕; 王家钰; 钟福新
来源:半导体技术, 2021, 46(09): 719-724.
DOI:10.13290/j.cnki.bdtjs.2021.09.010

摘要

采用旋涂法与水热法在掺氟二氧化锡(FTO)上制备了Ce掺杂Bi2S3/Fe2O3(Ce-Bi2S3/Fe2O3)异质结,对样品的组成、形貌及其光电性能进行了研究分析。结果显示,Ce-Bi2S3/Fe2O3的X射线衍射(XRD)图谱中各衍射峰位与Bi2S3/Fe2O3相似,无新的相产生,但在2θ为24.92°(130)与28.65°(211)的衍射峰强度有所降低,而在2θ为35.65°(110)时有所增强;在Ce-Bi2S3/Fe2O3的X射线能谱(EDS)中发现了Ce元素。光电性能测试结果表明,在模拟太阳光的照射下Ce-Bi2S3/Fe2O3的光电压为0.347 V,比Bi2S3/Fe2O3(0.281 V)提高了23.5%;光电流密度达到2.31 mA·cm-2,比Bi2S3/Fe2O3(0.53 mA·cm-2)提高了约3.36倍;电化学阻抗谱(EIS)显示,在光照下Ce-Bi2S3/Fe2O3具有最低的界面阻抗,表明Ce-Bi2S3/Fe2O3中的载流子被更有效地分离和转移。

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