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摘要
为了加快产品设计开发周期,尽早发现产品缺陷,快速验证产品性能,由此以高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test,缩写为HALT)和高加速应力试验(Highly Accelerated Stress Test,缩写为HAST)为代表的故障激发试验被提出并得到广泛应用。高加速寿命试验和高加速应力试验,作为故障激发试验的典型代表在快速发现产品缺陷,缩短开发周期,改善产品可靠性方面发挥了重要作用。
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为了加快产品设计开发周期,尽早发现产品缺陷,快速验证产品性能,由此以高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test,缩写为HALT)和高加速应力试验(Highly Accelerated Stress Test,缩写为HAST)为代表的故障激发试验被提出并得到广泛应用。高加速寿命试验和高加速应力试验,作为故障激发试验的典型代表在快速发现产品缺陷,缩短开发周期,改善产品可靠性方面发挥了重要作用。
