目前,随着板级器件密度的不断增大,尤其是表贴器件、BGA器件的大量使用,传统的测试方法,如使用万用表、示波器等已不能够覆盖足够的测试面积,这为模块测试带来了挑战。而随着支持IEEE1149.1标准的器件在模块中广泛的应用,很好的解决了这一问题。文章从JTAG边界扫描技术的原理出发,探讨如何将该技术应用到模块级测试中,为模块测试诊断带来便利。
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