以X射线平板探测器的物理结构为基础,分析成像过程中的噪声来源,构建噪声分布的数学模型。通过实验设计,验证模型的正确性并进行参数的标定,在不同的射线能量下标定并分析了参数的变化趋势。实验表明,X射线噪声模型服从泊松-高斯分布,X射线剂量也会显著影响模型参数。
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