科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
目的 提出电荷交换复合谱(CXRS)边缘谱线分析过程中的过拟合现象，探讨其对主动光谱成分提取和对等离子体参数的影响。方法 利用数值模拟建立双高斯模型，一个表示主动谱，另一个表示被动谱。分别利用混合高斯牛顿算法和遗传算法对边缘测量谱线进行双高斯拟合。结果 过拟合的出现主要影响主动谱的光强，而对其展宽和中心位置影响较小，主要源于被动谱不稳定造成，容易被当成误差信息。结论 在CXRS边缘谱线拟合中出现的过拟合现象严重影响了CXRS诊断对等离子体参数的判断，使得等离子体杂质密度严重偏离真实值，但其对等离子体的温度和旋转速度影响较小。
- 单位
