基于反熔丝的FPGA的测试方法

作者：马金龙; 卢礼兵

来源：微电子学与计算机, 2016, 33(08): 168-172.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2016.08.036

• 反熔丝
• FPGA
• ATE
• 实装板
• 测试

首先介绍了基于反熔丝的FPGA的典型结构,接着介绍了基于反熔丝的FPGA的可编程逻辑模块(PLM)、布局布线以及可编程互连资源,然后讨论了基于反熔丝的FPGA的测试模式,最后提出了一种ATE和实装板相结合的测试方法,实验结果表明,该测试方法在芯片未编程状态下,实现了对基于反熔丝的FPGA的测试.

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所