数字电路的测试生成通常是求解一个或一组测试矢量,这些测试矢量能够激活原始故障,并将这些故障效应传递到最终的输出端。测试集优化的基本目标是确定有效的测试矢量,即通过这些测试向量可以区分电路的正常状态与故障状态。目前随着各种智能优化算法的深入研究发展,针对测试集的优化方案也成为了这些智能策略发挥的舞台。
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