SoC测试性设计和验证方法关键技术研究

作者：葛鹏岳; 黄考利; 连光耀; 徐建芬

来源：仪表技术, 2010, (03): 62-64.

DOI：10.19432/j.cnki.issn1006-2394.2010.03.023

• SoC
• 可测试性
• 验证 SoC
• DFT
• verification

超深亚微米技术(VDSM)和基于芯核的设计给芯片系统(System-on-a-Chip,SoC)测试和验证带来了测试难、验证复杂等新问题。文章对SoC设计特点、可测试性设计分类以及SoC测试访问机制(TAM)进行了深入综述,并讨论了传统集成电路(ASIC)验证方法的特点和SoC验证面临的问题;重点讨论了模块级验证、断言和形式验证技术、Farm技术和覆盖率分析以及基于随机测试激励等几种提高SoC验证功能的技术。

• 单位
  北京航天飞行控制中心; 中国人民解放军陆军工程大学