高热剂实现电路毁伤的试验探究

作者:段英杰; 王建华*; 刘玉存; 于雁武; 袁俊明
来源:兵器装备工程学报, 2019, 40(01): 210-213.

摘要

为了破坏敌目标电子设备,实现电路毁伤,使其控制系统瘫痪,时行用高热剂烧毁电路元件的试验探究;以Al粉、Fe2O3粉以及Si O2粉,按一定比例在行星式球磨机中进行混合制备A、B两种高热剂,将干燥后的高热剂药粉末压制成直径20 mm的药柱放到电路板上进行点火试验;通过红外测温仪观测药柱的燃烧温度,待高热剂燃烧之后观察高热剂燃烧对电路板线路及各种元件的毁伤效果;实验结果表明:在铝热剂中加入一定量二氧化硅能在放热时生成大量熔渣,使电路板上电路元件烧伤短路,破坏电路系统。