摘要
在软件研制过程中,缺陷定位是一个重要的研究课题。但是,实际软件中的缺陷数量无法被预先判定,且已有的单缺陷定位方法不易使用,已有的多缺陷定位方法存在定位效率不高的问题。基于此,文中对多缺陷定位方法GAMFL进行了研究和改进,提出了基于频谱信息并结合碰集和遗传算法的缺陷定位方法 GAHIT。该方法定义了定位基本块,并用其替代语句进行缺陷定位,缩小了搜索范围;在初始种群的构造过程中,提出了采用求解失败用例执行路径碰集的方法,优化了初始种群的生成,并给出了新的适应度函数的计算方法,提高了算法的整体执行效率;最后针对遗传算法的结果,给出了缺陷检查策略,提高了在最优种群中查找缺陷的准确性。实验结果表明,所提方法能够有效处理缺陷数量未知情况下的定位问题,在单缺陷和多缺陷程序中都有较好的定位效果。
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