一种变曲率面晶体X射线检测技术

作者：施军; 黎淼; 骆琳冬瑛; 王峰; 杨国洪; 韦敏习

来源：光子学报, 2020, 49(03): 70-77.

• 惯性约束聚变
• X射线
• 变曲率面晶体
• 聚焦
• α石英
• 光谱仪

在惯性约束聚变光谱诊断物理实验研究中,晶体衍射后X射线光谱信号较弱,需要高收光效率及宽频谱范围的光谱诊断仪器.在传统锥面弯曲晶体基础上提出变曲率弯晶多能点成像技术,该技术具有宽频谱范围、强聚焦能力、高光谱分辨的特点.在晶体衍射成像结构设计中,由于能够确保成像光线的旋转对称性,因此在原理上可消除传统弯晶X射线衍射成像像差.利用研制的变曲率面石英晶体对钛靶X射线源进行X射线聚焦检测,并与同种材料的平面晶体进行收光效率对比,实验结果表明该变曲率面石英晶体的收光效率可以达到平面石英晶体的100倍,检测X射线能量范围为4.51～5.14keV.该晶体谱仪结合X射线条纹相机能够检测宽频谱范围的微弱X射线信号,条纹相机探测面可与晶体检测光路方向垂直布局.

• 单位
  重庆大学; 重庆邮电大学; 中国工程物理研究院激光聚变研究中心