摘要

传统硫族化合物中,阳离子相同时,随着阴离子原子序数的增加,价带顶(VBM)逐渐升高,带隙呈减小的趋势。在A2BX4基化合物(A=V、Nb、Ta,B=Si、Ge、Sn,X=S、Se、Te)中,我们观察到随着阴离子原子序数增加,其带隙呈现反常增大的现象。为了探究其带隙异常变化的原因,基于第一性原理计算,我们对A2BX4基化合物的电子结构展开了系统的研究,包括能带结构、带边相对位置、轨道间耦合作用以及能带宽度等的影响。研究发现,Nb2SiX4基化合物中Nb 4d轨道能量明显高于阴离子p轨道,其价带顶和导带底主要由Nb 4d轨道相互作用组成,其带宽主要影响带隙大小。Nb2SiX4基化合物的带隙大小是通过Nb-Nb和Nb-X键共同作用于Nb 4d轨道的宽度来控制的。当阴离子序数增加时,Nb-Nb键长增加,其相互作用减弱,由Nb 4d轨道主导的能带变宽,带隙减小;另一方面,Nb-X键长增加又使Nb 4d带宽变窄,带隙增加,并且Nb-X键长增长占主导,所以带隙最终呈现异常增加的趋势。