K_2SiF_6法测定萤石中SiO_2结果偏低原因的探讨

作者：阳小宇

来源：玻璃, 2005, (04): 38-40+61.

• K_2SiF
• 测定
• 萤石
• SiO_2 K_2SiF_6
• fluorite
• SiO_2

通过实验对K2S1F6法测定萤石中SiO2结果进行了分析,探讨了造成结果偏低的原因,总结了最佳条件。

• 单位
  湖南化工职业技术学院