X-射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙、二氧化硅含量

作者：张婕; 罗文

来源：技术与市场, 2016, 23(04): 217.

• X-射线荧光光谱法
• 萤石
• 试验
• 氟化钙
• 二氧化硅

应用X-射线荧光光谱法(XRFS)测定了萤石中氟化钙、二氧化硅含量,通过化学法测定萤石中可溶于弱酸的钙量,从总钙量中减去,得出氟化钙中的钙量,从而求得氟化钙含量。方法的精密度和准确度良好,能满足生产要求。

• 单位
  新余钢铁集团有限公司