EDXRF法测定V-Ta合金中Ta含量

作者：刘露; 余春荣; 赵建龙; 肖吉群; 王雯; 高戈

来源：核电子学与探测技术, 2016, 36(07): 710-713.

• V-Ta合金
• EDXRF法
• Ta含量

为适应新型合金材料(V-Ta合金)研制的需要,建立了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定V-Ta合金中Ta含量的分析方法。该方法将溶解的V-Ta合金切屑样制成滤纸片试样,用能量色散X射线荧光光谱仪测定其Ta含量。该方法简便、快速,测定Ta含量在25%40%范围内的样品时,其测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于1%。

• 单位
  中国工程物理研究院材料研究所