EEPROM编程干扰现象的产生机理及消除方法

作者：夏天

来源：电子技术, 2021, 50(06): 1-3.

• 集成电路设计
• 耦合效应
• 隧穿氧化层
• 编程干扰
• 擦写干扰

阐述采用交替位线或者位线钳位的方式,能显著的改善或者消除由于线间耦合带来的编程干扰问题。相对而言,采用位线钳位的方式能够彻底消除耦合效应,但也需要付出一定的面积代价。因此,可以根据实际的情况选择更合适的方案来消除编程干扰的问题。