是德科技推出全新第三代参数测试解决方案

来源：中国计量, 2018, (02): 133.

<正>是德科技(纽约证券交易所代码:KEYS)近日宣布推出其第三代P9000系列大规模并行参数测试系统。该系统不仅可加速新技术的快速发展,更降低了高级半导体逻辑和记忆集成电路开发和制造过程中的测试成本。随着第三代P9000的推出,其采用全新引脚参数测试模块(是德