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摘要
光纤有独特的性能，应用领域广泛，应用市场也在不断的增加,随着人们的生活水平的提高，应用需求也随之增加。这就对特种光纤的几何参数测试提出了较高的要求，光纤几何尺寸的变化影响着光纤的传输性能，目前主要依据国际电工委员会标准IEC 60793-1-21，应用侧视法对光纤涂覆层，包括一次涂覆、二次涂覆几何性能进行测试。侧视法通过有限点拟合反映光纤涂覆层几何性能，这种方法在解决普通光纤，比如G652,G655等光纤可以有效的解决，但是对特种光纤不能较好的计算各个参数。本文采用近场光分布法开展对光纤涂覆层几何参数的测试，这种方法，可以更好的反应光纤端面的特性。
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单位上海电缆研究所
