摘要

随着集成电路工艺水平提升,半导体器件尺寸越来越小,存储器更易受到周围环境的影响而导致数据存储故障。针对这一问题,该文提出了一种基于分块主成分分析的存储器容错方法。该方法应用分块主成分分析算法提取数据的主要特征,并对求取的特征数据作均值化处理,得到原始数据的最佳近似估计。该最佳近似估计可对数据中的任意故障做容错替换,使容错替换后的数据和原始数据的误差最小。实验结果表明,该方法可以使图片数据在0.003 5错误率的情况下仍保持峰值信噪比大于30 dB;与传统纠错码相比,执行时间缩短了约40%,内存消耗减少了约12%,获得了较好的容错效果。

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