航天元器件关键工艺的统计过程控制方法

作者：贾彬; 段超

来源：航天器环境工程, 2012, (02): 227-230.

• 统计过程控制
• 元器件工艺
• 二方审查
• 数据监控 statistical process control
• component processing
• check from a second party
• data monitoring

文章以统计过程控制(SPC)中的均值—标准差(-R—R)控制图理论方法为基础,以宇航元器件关键工序中的集成电路键合拉力强度为研究对象,提出宇航元器件关键工序进行SPC的必要性,并提出以(-R—R)控制图作为质量工具对宇航元器件关键工艺进行质量监控的方法,计算出该关键工艺的过程能力指数。

• 单位
  中国空间技术研究院