30～160 keV单能X射线装置的单色性实验研究

作者：王二彦; 蒋政; 郭思明; 吴金杰^*; 杨强; 周鹏跃; 宋瑞强

来源：计量学报, 2021, 42(05): 645-649.

• 计量学
• 单能X射线
• 能量分辨率
• 高纯锗探测器
• 双晶单色器

单能X射线光源是由X射线光机、双晶单色器、标准探测器以及准直系统组成。X射线光机产生的连续X射线,通过与双晶单色器发生布拉格衍射完成单色化,调节不同的特定布拉格角度得到能量范围30～160 ke V的单能X射线。为了研究标定装置的能量展宽,需要对该装置产生的单能X射线的能量分辨率进行研究。结果表明Si(220)晶体产生的单能X射线的能量分辨率为0.91%@30 ke V和2.3%@70.6 ke V,Si (551)晶体为1.97%@80.1 ke V和3.45%@142.6 ke V。使用这套装置对溴化镧晶体探测器的能量响应进行校准验证,实验发现该装置的能量分辨率良好,可以应用在多种类型探测器的标定实验、X射线质量衰减系数测量以及多层膜反射率测量等领域。

• 单位
  中国计量科学研究院; 成都理工大学