日盲紫外探测技术具有增益高、信噪比高、虚警率低、功耗低和体积小等优点，是导弹预警、电晕检测等应用领域的关键核心技术。本文从日盲紫外探测器件的实际应用出发，简述了紫外像增强管、日盲滤光片和日盲紫外ICCD/CMOS组件的结构、技术特点和工艺技术研究进展情况，分析了相关技术的未来发展趋势。
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