Flash存储器单粒子效应测试研究综述

作者：黄姣英; 王乐群^*; 高成

来源：电子技术应用, 2020, 46(07): 44-52.

DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200210

• Flash存储器
• 单粒子效应
• 测试方法
• 辐照实验

随着Flash存储器在航天系统中的大量应用,其单粒子效应评价至关重要。首先综述了Flash存储器单粒子效应研究进展,总结出在重离子辐照实验中常见单粒子效应及其故障原因,包括由存储单元故障和外围电路故障造成的单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闭锁。随后,归纳出常见单粒子效应的测试区分方法、测试算法和测试流程,为相关测试实验研究提供参考。

• 单位
  北京航空航天大学