<正>近日,国家知识产权局颁发了2019年度第二十一届中国专利奖证书和奖牌,华南理工大学陈广学教授团队的发明专利"一种具有印制高度的防伪二维码的印制方法及装置(专利号ZL201610013450.3)"荣获中国专利优秀奖。该专利从二维码的自身结构入手,将二维码与3D打印技术相结合,从预设范围内随机选择确定印制高度,生成具有高度的三维图像,并通过控制油墨流变性和分层打印参数实现特定的微观高度,
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