摘要
本发明公开了一种X射线光栅干涉仪成像的多衬度信号提取方法,是应用于沿Z轴向上依次设置有光源、相位光栅、分析光栅、光强探测器所构成的X射线光栅干涉仪成像系统中,且在沿X轴向上中心对齐,在沿Y轴向上中心对齐;光源出射的X射线依次穿透相位光栅、被成像物、分析光栅后,X射线的强度分布被光强探测器测量并记录为投影数据;利用提出的多衬度信号提取方法计算光强探测器记录的投影数据,可准确提取被成像物的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够校正光栅相对位移的随机误差导致的多衬度信号的伪影,实现被成像物的吸收、折射和暗场信号的准确、定量提取。
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