一种改进的SMD图像亚像素边缘检测算法研究

作者：孙瑞彤; 谷玉海^*; 张英

来源：国外电子测量技术, 2023, 42(09): 130-136.

DOI：10.19652/j.cnki.femt.2304970

• 双边滤波
• 形态学
• Zernike矩
• 亚像素
• 边缘检测

为了满足对表面贴装器件(surface mounted devices, SMD)器件边缘高精度的定位要求，提出了一种改进的SMD图像亚像素边缘检测算法。首先，对SMD图像进行双边滤波和二值化处理；其次，采用引入信息熵加权系数的多类型多尺度的结构元素对预处理后的SMD图像进行形态学运算，获得像素级图像边缘；最后，在像素级图像边缘的基础上，采用一种改进模板系数和边缘判断条件的Zernike矩边缘模型对SMD图像重新定位，确定亚像素边缘坐标，实现SMD图像边缘检测。实验结果表明，该算法与Zernike矩和改进Sobel-Zernike矩算法相比，亚像素坐标与真实坐标误差更小且仅为0.494 0 pixels,运行时间分别减少了54.671%和19.407%。

• 单位
  北京信息科技大学; 自动化学院; 北京邮电大学; 机电工程学院