基于易损斑块的分子机制,包括正电子发射体层显像在内的多种分子影像学技术能识别脑血管事件的责任颈动脉易损斑块,从而为卒中风险评估提供更详细的信息。文章对颈动脉易损斑块的分子机制以及分子影像学评价技术进行了综述。