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摘要
建立X-射线荧光光谱法测定伟晶岩中主次量组分SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MnO、P2O5的快速分析方法。在优化的实验条件下,采用国家标准物质和自制标准样品建立标准工作曲线,并用基体校准一体回归方程进行谱线重叠干扰和基体效应校正。各元素线性相关系数均大于0.999 5,检出限为70～280 μg/g。对国家标准物质及样品进行重复测定,分析结果与标准值吻合,相对误差不超过10%,相对标准偏差不大于5%(n=12)。该方法具有较好的准确度和精密度,能满足快速分析的需要。
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单位河南省有色金属地质勘查总院
