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摘要
目前，电子元器件缺陷的检测大多都是对其内部和外部进行检测，内部检测难度比较大，检测参数和检测过程较为复杂、麻烦，而且内部的参数有时候后不能准确地进行检测；而外观缺陷检测大多数只通过人眼或显微镜进行人工观察，效率低下，浪费人力物力；为此通过对电子元器件的内部和外部缺陷进行检测判断是否存在性能参数失效，以及利用数字图像处理技术对电子元器件外观缺陷进行检测和分析。具体地，明确内部参数检测原理和外部检测主要结构与功能，外部检测主要获取图像进行分析，同时，执行图像分割与降噪处理，借助于生成的灰度共生矩阵将纹理特征值计算出来，与预存储缺陷数据进行比对，明确元器件的外部具体缺陷情况。
