一种高可靠的开关电容PUF电路

作者：贺章擎; 张灵超; 万美琳; 邹雪城

来源：华中科技大学学报(自然科学版)科技大学, 2019, 47(03): 93-103.

DOI：10.13245/j.hust.190316

• 开关电容
• 物理不可克隆函数(PUF)
• 可靠性增强
• 密钥产生
• 可靠性测试
• 可靠性标识

提出了一种高可靠的开关电容PUF(RSC-PUF)电路,通过在开关电容PUF(SCPUF)内部嵌入一个测试电容及相应的控制电路,在其运行过程中自动测试每个PUF单元的电容偏差,根据偏差大小为每bit输出生成相应的可靠性标识值,外部电路可以由此挑选可靠的PUF单元输出构建数字密钥.在HJ 0.18μm CMOS(互补金属氧化物半导体)工艺下进行流片验证,结果显示:当被挑选的可靠PUF的比率为20.5%时,RSC-PUF的比特错误率达到1×10-8以下,满足密钥产生所需的可靠性要求;而32 bit RSC-PUF所消耗的面积与SC PUF相比增加了约74.8%,远小于纠错机制所需要的开销.

• 单位
  光学与电子信息学院; 湖北工业大学; 华中科技大学