<正>氧化镍(NiO)晶体暴露在空气中时会因表面氧过剩而电离产生空穴,导致整体呈现p型半导体的特征,因此也被认为是一种直接带隙的宽禁带半导体材料,室温下的禁带宽度为3.6~4.2 eV,具有良好的气敏和热敏特性,属于表面控制电阻型气敏材料[1].