一种基于ATE测试机的高低温自动测试方法分析

作者：朱刚俊

来源：集成电路应用, 2023, 40(07): 44-45.

DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2023.07.017

• 集成电路测试
• ATE
• 高低温试验箱
• NTC
• 温敏电阻

阐述一个利用ATE测试设备对芯片的高低温测试进行自动化测试的方法。探讨用ATE测试机的自动测试功能，对芯片的所有需要测试参数进行自动测试、测试后的数据分析，得出需要的测试结果。