应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路设计

作者：王雪萍; 曹靓

来源：电子与封装, 2019, 19(10): 20-25.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1006

• TMR
• I/O
• 抗辐照
• FPGA

针对工业控制、航空航天等多种复杂的电磁辐射环境中对大规模FPGA器件及高速数据传输的迫切需求,设计了一种可应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路。该I/O电路中输入/输出寄存器均采用三模冗余(TMR)技术进行了抗辐照加固,能够支持14种电平标准,实现宽电压范围调节。该抗辐照FPGA抗单粒子翻转(SEU)大于37 MeV·cm2/mg。仿真及测试结果表明,该I/O电路满足设计要求。