为解决芯片集成度提高带来的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾，提出一种利用循环扫描链的测试数据压缩解压算法。移动循环扫描链中的测试向量，前后测试向量之间因此产生间接相容的关系，编码间接相容测试向量，实现测试数据压缩的目的。根据线性生成图，测试向量以最小幅度循环右移快速产生后续测试向量，有效降低测试应用时间。与同类经典方案相比，该方案的平均压缩率效果最好，编码算法简单，测试向量解码电路简单。
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