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摘要
低电压球差校正扫描透射电子显微学和电子能量损失谱(STEM-EELS)由于能够有效地避免撞击位移损伤(knock-on damage)和提高电子束与样品的非弹性散射截面,从而在低维纳米催化剂的结构表征方面具有广阔的应用前景。作者以最近在CrNi氧化物和Ni-N-C单原子催化剂上的工作为例,展示利用低电压STEM-EELS表征不同元素不同化合价态在空间上的分布以及在单原子敏感度下进行化学键合的分析。这些基于低加速电压下的STEM-EELS结果为理解纳米催化剂的构效关系提供了更全面的认识以及为材料设计提供了进一步指导。
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