图像处理技术的光学元件表面疵病检测

作者：丁兵兵; 匡珍春^*; 王军民; 何小山

来源：激光杂志, 2022, 43(11): 31-35.

DOI：10.14016/j.cnki.jgzz.2022.11.031

• 图像处理技术
• 表面疵病
• 图像形态学
• 背景校正算法

提出基于图像处理技术的光学元件表面疵病检测方法，旨在提高光学元件表面疵病检测精度。采用背景校正算法去除图像噪声并均匀补偿背景，通过的自适应阈值法分割疵病目标区域，结合图像梯度信息，改善最大类间方差法局限性，使用外接矩形法刻画分割得到疵病目标区域尺寸，实现光学元件表面疵病检测。实验证明：该方法校正后的疵病图像背景均匀性较好，且未出现图像细节大量丢失情况，抗噪能力强；能够判断疵病形状，划分麻点和划痕类疵病，光学元件表面疵病检测效果好。

• 单位
  广东海洋大学寸金学院; 广东海洋大学