针对Lambert-Beer定律的应用局限性以及Tollenaar-Ernst经验公式的数理逻辑欠缺问题,本文通过模型假设和理论光程分析,创建了墨层厚度与实地反射密度的关系模型。仿真计算揭示了新模型与科学实验结果以及工程实践数据的高度一致性,新模型应用分析对密度的饱和现象以及密度的干退现象做出了新的解读,对印刷色序的呈色影响首次进行了密度学阐释。
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