基于任意环境下的动态测试系统设计

作者：王禹辉; 于东阳

来源：微处理机, 2016, 37(03): 10-16.

• 测试
• 环境
• 程序
• 单片机
• 上位机
• 下位机

芯片广泛应用于计算机、办公自动化设备、工业仪器仪表、航天等领域,涉及到国民经济各行各业。芯片的工作稳定受到越来越多的关注,而使用之前的测试是保证芯片可靠的重要环节。以动态测试方法为例,扼要介绍芯片在任意环境下的测试方法,并解析测试过程中的注意事项,为芯片的动态测试提供了较为全面的借鉴。

• 单位
  中国电子科技集团公司