基于ISAR成像和序列CLEAN的RCS近场测量方法

作者:张依轩; 毕志超; 王楠; 杨玉禾; 张玉
来源:2023-04-17, 中国, CN202310410341.5.

摘要

一种基于ISAR成像和序列CLEAN的RCS近场测量方法,其步骤为:获取待测目标和定标体补偿后的近场后向散射场;采用下述BP成像算法中的公式,对补偿后的近场后向散射场进行ISAR成像;利用序列CLEAN算法分别提取待测目标和定标体的ISAR图像的散射点;计算ISAR图像的阈值比较值d-0;判断阈值比较值是否大于或等于终止阈值H;根据所提取散射点的位置和复幅值,计算待测目标的远场后向散射场;根据待测目标的远场后向散射场,通过定标操作得到待测目标的远场绝对RCS。本发明消除了错误提取伪散射点导致测量精度降低的问题,提高了测量精度。