磁敏感加权成像在脑外伤所致精神障碍原因分析中的应用

作者：王美娟; 邵宝富^*; 王超; 陈桂兵

来源：中国医学计算机成像杂志, 2018, 24(04): 292-295.

DOI：10.19627/j.cnki.cn31-1700/th.2018.04.004

• 脑外伤
• 精神伤残
• 磁敏感加权成像

目的:探索磁敏感加权成像(SWI)在脑外伤所致精神障碍者精神伤残评定中的运用价值。方法:对56例脑外伤所致精神障碍者行T1加权、T2加权、液体衰减反转恢复(T2 Flair)、磁共振弥散加权成像(DWI)及SWI扫描,并对其影像进行分析,对比各种方法显示病灶的数目、范围的效果。结果:56例患者中,T1加权成像显示病灶181个,检出率为50.00%(28/56);T2加权成像显示病灶185个,检出率为50.00%(28/56);T2 Flair成像显示病灶185个,检出率为50.00%(28/56);DWI成像显示病灶186个,检出率为55.36%(31/56);SWI成像显示病灶883例,检出率为80.36%(45/56),其中16例病灶为SWI特有,在其他序列上未显示。结论:SWI能明显提高脑外伤所致精神障碍者病灶的检出率,为正确的脑外伤后伤残评定提供客观依据。

• 单位
  淮安市第三人民医院