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摘要
随着超深亚微米工艺的发展和So C基于IP核的设计,使芯片逻辑功能越来越复杂,需要更多的引脚和测试资源。为了满足不同客户的需求,要求芯片的引脚数有灵活性,这直接导致了对芯片测试资源使用有所限制。使用较少的硬件资源,完成复杂的逻辑功能测试,是芯片测试逻辑设计的核心技术之一。主要介绍对ADC所需的测试资源的优化,首先介绍了传统ADC测试结构及其局限性,然后介绍了ADC优化后的测试结构,使之能够在较少芯片引脚资源的条件下保证测试灵活性。在此基础之上,搭建了ADC数模仿真环境,并使用NC-SIM软件对ADC基本功能进行了仿真测试。
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单位中国电子科技集团公司第五十八研究所
