摘要
针对单模拟/数字转换器(Analog-to-Digital Converter, ADC)电流采样存在采样时间窗不足所导致的相电流波形抖动问题,在金属半导体晶体管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,MOSFET)内阻采样方式下,提出了一种相电流重构的方法。在分析MOSFET内阻采样原理和ADC采样最小时间窗的基础上,给出了采样限制条件。根据采样最小时间窗对采样方式进行分类,对采样时间不足的情况进行相电流预估,在完全采集不到电流时,进行相电流重构替换。该算法选用32位M0内核微处理器(Microcontroller Unit, MCU)作为载体,对比分析重构前后的相电流,得出该算法的有效性,解决了采样时间窗不足时的相电流波形抖动问题。