基于相变单元测试的高速可编程脉冲电流源

作者：胡佳俊; 陈后鹏; 王倩; 李喜; 雷宇; 苗杰; 宋志棠

来源：固体电子学研究与进展, 2017, 37(01): 26-31.

DOI：10.19623/j.cnki.rpsse.2017.01.006

• 相变单元
• Set操作
• Reset操作
• 高速脉冲电流源

基于相变单元电压操作的局限性,提出一种电流编程操作的方法。针对纳秒级快速相变的需求,设计了一款高速可编程的脉冲电流源,采用0.35μm标准CMOS工艺。结果显示:在10MHz编程速度的条件下,驱动脉冲电流能够良好地跟随控制信号的脉冲波形;当编程信号频率从500kHz到10 MHz变化时,输出电流变化为4.5%;当编程电阻从200Ω到10kΩ变化时,输出电流精度误差不到3%,芯片面积为0.84mm2。在高速可编程脉冲电流源的测试平台上,对相变单元进行电流编程操作,结果显示,相变电阻能够可靠地进行晶态-非晶态的高速可逆相变。

• 单位
  中国科学院上海微系统与信息技术研究所; 信息功能材料国家重点实验室