基于FPGA的ADC测试系统的设计

作者：杨玉飞^*; 侯伟盟; 钱宏文; 侯东斌

来源：机电一体化, 2021, Z1: 60-65.

DOI：10.16413/j.cnki.issn.1007-080x.2021.z1.010

• ADC
• 测试系统
• FPGA

针对国产ADC芯片设计了一种基于FPGA的ADC测试系统。通过对ADC芯片原理分析,再进行详细的硬件设计、FPGA软件和上位机编码调试,最后选用高精度仪器进行软硬件联调,并通过测试国外ADC芯片相关动静态参数是否达标来验证该测试系统是否合格。经过常温、高低温测试,测试结果满足国外芯片各项指标,证明测试系统设计合理、性能可靠,可用于国产芯片的测试。

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所