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摘要
为了分析相位噪声对于数字阵列波束合成性能的影响，通过对比阵列激励误差和热噪声建模，并考虑阵列本振复用结构，建立了相位噪声在数字波束合成中的概率数学模型。主要针对均匀线性阵列推导得到了引入相位噪声的波束合成信噪比与功率方向图表达式。基于得到的闭式表达式，通过数值仿真分析了不同相位噪声值和本振复用结构的阵列性能，验证了以下结论：本振分布化程度的提高能够获得空间主波束方向信噪比和瞬时动态增益，但同时会相应抬高副瓣电平并造成调零回填，从而恶化阵列空域抗干扰能力。
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为了分析相位噪声对于数字阵列波束合成性能的影响，通过对比阵列激励误差和热噪声建模，并考虑阵列本振复用结构，建立了相位噪声在数字波束合成中的概率数学模型。主要针对均匀线性阵列推导得到了引入相位噪声的波束合成信噪比与功率方向图表达式。基于得到的闭式表达式，通过数值仿真分析了不同相位噪声值和本振复用结构的阵列性能，验证了以下结论：本振分布化程度的提高能够获得空间主波束方向信噪比和瞬时动态增益，但同时会相应抬高副瓣电平并造成调零回填，从而恶化阵列空域抗干扰能力。
