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摘要
将旋涂制备的薄膜在120oC下退火,得到α相的聚辛基芴薄膜,用吸收光谱和荧光光谱进行了验证。用同步辐射一维和二维掠入射X射线衍射对薄膜进行了结构表征,结果表明,虽然聚辛基芴系非线型分子,但在薄膜微晶中分子链段主要以平行于基底的edge-on模式排列。
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单位高分子物理与化学国家重点实验室; 中国科学院长春应用化学研究所; 长春工业大学
将旋涂制备的薄膜在120oC下退火,得到α相的聚辛基芴薄膜,用吸收光谱和荧光光谱进行了验证。用同步辐射一维和二维掠入射X射线衍射对薄膜进行了结构表征,结果表明,虽然聚辛基芴系非线型分子,但在薄膜微晶中分子链段主要以平行于基底的edge-on模式排列。
