本文以纳米SiO2粉末为研究对象,首次比较了三种常用的纳米颗粒粒径检测方法(透射电镜法、X射线衍射法、比表面积法)的检测结果。结果表明:与透射电镜法检测结果相比,X射线衍射法及比表面积法的测量结果偏小,分别小约8.1%和5.9%。
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