低电压SRAM测试电路设计与实现

作者：蔡志匡; 王昌强; 王荧; 荣佑丽; 吕凯; 肖建

来源：电子器件, 2018, 41(06): 1394-1400.

• 低电压SRAM
• DFT
• 内建自测试
• 故障覆盖率

针对一款256 kbit的低电压8T SRAM芯片进行测试电路设计,电路主要包括DFT电路和内建自测试电路两部分,前者针对稳定性故障有着良好的覆盖率,后者在传统March C+算法基础上,提出了一种March-Like算法,该算法能够实现更高的故障覆盖率。仿真结果表明,DFT电路能够减小稳定性故障的最小可检测电阻,提高了稳定性故障的测试灵敏度; March-Like算法可以检测到低电压SRAM阵列中的写破坏耦合故障、读破坏耦合故障和写干扰故障。

• 单位
  南京邮电大学; 东南大学生物科学与医学工程学院